日前，國科微宣布公司自主研發的NANDXtra®可靠性引擎推出第三代版本——NANDXtra® Gen3，極大地提升閃存顆粒的可靠性，并延長使用壽命3~5倍，標志著國科微在固態硬盤控制器自主研發道路上取得了又一重大技術突破。與此同時，搭載NANDXtra® Gen3可靠性引擎的國科微GK2302V200系列控制器芯片即將上市，全面兼容128層TLC與QLC閃存顆粒，為用戶提供更為出色的數據訪問體驗。

固態硬盤（Solid State Disk，SSD）從誕生到現在，歷經SLC、MLC到TLC的閃存顆粒換代。如今隨著QLC顆粒的逐漸普及，數據存儲密度獲得再次提升，成本也隨之降低，QLC顆粒受到越來越多固態硬盤企業的青睞。不過，由于單位電荷密度增加，顆粒變得更加不穩定，這就對控制器芯片企業提出了更高的要求。如何在顆粒持續更新換代的前提下，兼顧讀寫性能與用戶數據的可靠性，成為擺在控制器芯片企業面前的一個重要課題。

作為國內領先的自主控制器芯片及固態硬盤解決方案企業，國科微始終將用戶數據的可靠性擺在首位，獨創了NANDXtra®可靠性引擎。經過7年時間的演進，NANDXtra®可靠性引擎迭代至第三代，對用戶數據提供全方位的可靠性保障。

全新的NANDXtra®  Gen3可靠性引擎采用國科微專利技術，在數據通路上整合了二級磨損均衡策略、三級RAID引擎（Redundant Arrays of Independent Disks，磁盤陣列）以及4K LDPC（Low-density Parity-check，低密度奇偶校驗）糾錯算法，在不影響性能的前提下，大大提升了數據可靠性。

二級磨損均衡策略采用國科微專利技術，對閃存顆粒塊進行單獨管理，根據磨損（PE）狀況進行動態塊權重排序，分為兩級調整，確保寫入數據的全局均衡，杜絕出現區域塊失效問題，從源頭延長閃存顆粒使用壽命；RAID引擎采用國科微專利技術三級RAID引擎，僅用占比不到5%的存儲空間，對閃存顆粒進行Page、Die、CE級別的冗余保護，全面杜絕單點故障；LDPC引擎引入基于國科微全新動態調整專利技術的4K LDPC引擎，在糾錯能力達到業界一流水平的前提下，實現整個IP面積和功耗的全面領先。

長期的測試結果顯示，在NANDXtra® Gen3可靠性引擎的加持下，閃存顆粒平均使用壽命整體提升3到5倍，為采用QLC顆粒的SSD企業以及搭載使用QLC顆粒SSD的整機企業免去后顧之憂。

目前，搭載國科微NANDXtra® Gen3可靠性引擎的GK2302V200系列控制器芯片即將正式量產。同時，GK2302V200系列已完成與128層TLC和QLC 閃存顆粒的設計兼容，并且，GK2302V200工程樣品已通過有關權威測試機構的測試驗證，結果表明其可靠性、穩定性、性能均可與國際同類產品相媲美。

國科微存儲將持續秉持“構筑安全存儲芯基石”理念，以自主固態存儲芯片為根基，為客戶提供性能領先、安全可信賴的固態硬盤解決方案，從單一的自主控制器芯片提供商向固態硬盤解決方案提供商轉型，助推客戶邁入數字經濟時代